硅材料综合测试仪

硅材料综合测试仪 方块电阻测试仪 型号：JX2011

一、产品特点
1．仪器采用AC100-240V交流电源供电。
2．检测硅半导体材料的电阻率\方块电阻和PN型号两项指标。
3．拥有很高的电阻率测试分辨率， Z小可到0.00001Ω﹡㎝。
4.宽范围自动量程切换, 电阻率0.00001Ω﹡cm-10000Ω﹡cm
5．能的分辨电阻率在0.01Ω﹡cm-1000Ω﹡cm的硅材料PN型号。
二、推荐工作条件
1． 温度：23±2℃
2． 湿度：60%~70%
3． 无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近
三、参数指标
1．整机尺寸：260mm×245mm×110mm
2．探头1：四探针
3．探头2：三探针
4．电阻率量程：0.00001~10000Ω﹡㎝；误差范围：±5%
5．P/N检测：硅材料电阻率满足0.005-500Ω﹡㎝