X荧光分析仪

X荧光分析仪型号：CIT-3000SMD(A)

一、应用领域该仪器是专门为黑色冶金、矿山样品分析行业打造的一款针对性强的分析仪器，对原矿、精矿、尾矿、烧结矿、球团矿、炉渣、生铁、石灰石等许多样品可进行多元素快速检测。 
二、性能特点：
♦样品平台自动升降，工作十分方便； 
♦样品盘自动旋转，测量面积更大，并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差； 
♦抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于金属测量以及其他轻元素测量； 
♦模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性； 
♦采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率； 
♦更先进的 Superfast SDD 电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。 

三、仪器技术指标(1)测量范围：1-40kev； 
(2)可分析元素范围：Na-U； 
(3)分析含量范围：1ppm-99.99%； 
(4)分辨率：优于127Ev； 
(5)低检出限：Pb≤5ppm； 
(6)工作环境温度：0-40摄氏度； 
(7)工作环境相对湿度：≤80% （不结露） 
(8)测量时间：10-2550s(时间可调） 
(9)输入电源：AC 220V ±10%，50HZ； 
(10)额定功率：300W； 
(11)探测器类型：更先进的 Superfast SDD 探测器； 
(12)500万像素的CDD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分； 
(13)仪器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm 
(14)样品腔尺寸：样品腔：300*300*100