多参数检测仪型号：CD10产品概述：CD10多参数检测仪是一款能测10多种参数的多功能检测仪，其保持了稳定性、抗干扰性、免维护和寿命长等优点，具有体积小、携带方便、操作简单等特点。可连续测量甲烷、氧气、一氧化碳、硫化氢、二氧化碳、二氧化硫、一氧化氮、二氧化氮、差压、风速和温湿度等多种参数，并可设置超限报警。于矿井或底下管道等场所的有毒有害气体的实时检测，工作人员根据浓度显示做出相应对策，以保证工作人员的生命安全,用于坑道，风口，扇风机井口、各种工矿隧道通风等处的风速检测及井下...

微库仑硫含量测定仪技术文章KY-200A微库仑硫含量测定仪是根据微库仑原理，样品中各种形态的硫在氮气和氧气中于高温下变成二氧化硫，进入滴定池，通过电解产生碘与二氧化硫反应，微机根据产生的碘消耗的电量，依据法拉第定律，自动算出样品中的总硫。整个分析过程由计算机控制，样品由自动进样器载入，仪器自动化程度高。可用于石油化工产品中微量硫的分析，广泛应用于石油、化工、科研、教学、环保、质检、商检等行业。仪器主要特点：1.新推出数字化库仑仪，配置全，使用广的测定硫仪。性能好自动化程度高的...

高温管道(烟道)粉尘浓度检测仪应用案例粉尘仪特性优点产品优点：1.产品采用电荷感应技术，对粉尘的探测灵敏度高，产品实时在线连续检测，数据精准。2.小量程、大量程均可定制。3.测量介质范围宽泛，可测量常见介质的粉尘，可广泛应用于各个行业4.性能稳定，可应用于各类设备管道、烟道下的高温环境5.安装使用与二线制压力变送器*一致，操作简单，安装方便运行可靠。产品特性：1.DFM/TS/GW粉尘浓度检测仪由传感器单元、变送器单元组成的一体化结构。2.**用传感器为无电子电路，无源被动型...

非接触厚度电阻率测试仪型号：JXNRT1一、测试原理1、电阻率测试探头原理电阻率测试模块是由一对共轴涡流传感器，以及后续的处理电路组成。将半导体硅片置于两个探头的间隙中时，在电磁场的作用下，半导体硅片中会产生涡流效应，通过检测涡流效应的大小，可以换算出该硅片的电阻率和方块电阻。本方法是一种非接触无损测量的方法，不损伤材料表面，可以在大多数场合有效替代四探针法测试电阻率以及方块电阻。2、厚度测试探头原理厚度探头采用的是一对共轴电容位移传感器。电容传感器具有重复性好，测试数值稳定...

电阻率及型号测试仪使用说明产品说明JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，于半导体及太阳能行业的筛选。JX2008电阻率及型号测试仪产品特点1仪器采用220V交流电源供电。2同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。3拥有较高的电阻率测试分辨率，小可到0.001欧姆.厘米。4能精确的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。5**立的P/N型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。...

数字式电阻率测试仪电阻率测试仪型号：M-2M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进...

数字式四探针测试仪使用说明SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命...

数字式四探针测试仪技术文章SZT-4数字式四探针测试仪，是二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。(客户根据不同的要求可以选择不同的量程，Z小可以测量0.0001ΩZ大可以测量100000Ω,根据电流档定精度)通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜“方块电阻“的修正系数为4.53等均可通过...