双电测数字式四探针测试仪

ST2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是于斜置式四探针对于微区的测试。   
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。      
      ST2263型主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！  
     
     探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。  
     测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。      
          详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入  
      ST2263型具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。  
     仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是于斜置式四探针对于微区的测试。  
三、基本技术参数      
3.1  测量范围      
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    电  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)  
    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    测量方位: 轴向、径向均可  
3.3.  4-1/2 位数字电压表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.4  数控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.5  四探针探头（选配其一或加配全部）  
   (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调  
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调  
3.6 电源      
   输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号： ST2253

数字式四探针测试仪 型号： ST2253 
概述   
      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！ 
     
    探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
     
    测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头（选配其一或加配全部） 
    (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高） 
   净   重：≤2.5kg

产品名称：砂浆干料流动度测定仪（跳桌法） 干料流动度测定仪 产品型号： NLD-4A

砂浆干料流动度测定仪（跳桌法） 干料流动度测定仪 型号： NLD-4A

本测定仪依据《客运专线铁路CRTSII型板式无砟轨道水泥乳化沥青砂浆暂行技术条件》干料扩展度试验方法试验要求设计生产，控时控转准确，满足试验的需要。、
主要技术参数：
1、振动部分总重量： 4.35k g±0.15 k g
2、振动部分落差： 10mm ± 0.2 mm
3、振动频率： 1Hz
4、振动次数： 15 次自停         
5，振动时间；15S
6、净重：≈ 20k g

产品名称：矿用本安手机KT110-S 产品型号：KT110-S

矿用本安手机KT110-S 型号：KT110-S 
主要技术指标： 
电池类型：可充电锰酸锂电池；电池型号：hx-01 
电池规格：3.7v 750mah 
高开路电压≤ 4.2v 
大短路电流≤3.0a 
大工作电流：≤450ma 
待机电流：≤20ma 
发射功率：210mw；(50%～120%)