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数字式四探针测试仪

产品简介

ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合

产品型号:ST2253
更新时间:2024-05-13
厂商性质:其他
访问量:1527
详细介绍在线留言
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保

数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印! 
     
    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
数字式四探针测试仪     
    测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω 
    电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 
    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
    长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表: 
    (1)量程: 20.00mV~2000mV 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头(选配其一或加配全部) 
    (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W 
3.7.外形尺寸: 
    主   机  220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高) 
   净   重:≤2.5kg

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:多功能
产品型号: ST2258C

多功能 型号: ST2258C

概述

      ST2258C型多功能是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 
      ST2258C型多功能成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,大分类10类。 
      探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。   
      测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》   
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。   
仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

 基本技术参数

1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级) 
    电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10 Ω,    分辨率0.1×10-~ 0.01×103 Ω) 
    电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10 Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω/□)   
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     长(高)度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等级

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常规量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

---

大拓展量程

---

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

 

4.工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm(高)  
   净   重:≤1.5~2.0kg

产品名称:智能涡街流量计/涡街流量计
产品型号:TC-HC-LU

智能涡街流量计/涡街流量计 型号:TC-HC-LU 
产品特点: 
该产品主要用于工业管道介质流体的流量测量,如气体、液体、蒸气等多种介质。其特点是压力损失小,量程范围大,精度高,在测量工况体积流量时几乎不受流体密度、压力、温度、粘度等参数的影响。 
应用    
     TC-HC-LU系列智能涡街流量计主要用于工业管道介质流体的流量测量,如气体、液体、蒸气等多种介质。其特点是压力损失小,量程范围大,精度高,在测量工况体积流量时几乎不受流体密度、压力、温度、粘度等参数的影响。无可动机械零件,因此可靠性高,维护量小。仪表参数能长期稳定。本仪表采用压电应力式传感器,可靠性高,可在-20℃~+250℃的工作温度范围内工作。有模拟标准信号,也有数字脉冲信号输出,容易与计算机等数字系统配套使用,是一种比较先进、理想的流量仪表。 
  
※原理 

  
在流体中设置三角柱型旋涡发生体,则从旋涡发生体两侧交替地产生有规则的旋涡,这种旋涡称为卡门旋涡,如右图所示,旋涡列在旋涡发生体下游非对称地排列。 
  设旋涡的发生频率为f,被测介质平均流速为 ,旋涡发生体迎流面宽度为d,表体通径为D,即可得到以下关系式: 
 f=SrU1/d=SrU/md                    (1) 
式中  U1--旋涡发生体两侧平均流速,m/s; 
    Sr--斯特劳哈尔数; 
    m--旋涡发生体两侧弓形面积与管道横截面面积之比 
         
◆测量介质: 气体、液体、蒸气 
◆口径规格 法兰卡装式口径选择 25,32,50,80,100 
◆法兰连接式口径选择 100,150,200 
◆流量测量范围 正常测量流速范围 雷诺数1.5×104~4×106;气体5~50m/s;      液体0.5~7m/s 
 正常测量流量范围 液体、气体流量测量范围见表2;              蒸气流量范围见表3 
◆测量精度 1.0级  1.5级 
◆被测介质温度:常温–25℃~100℃ 
◆高温–25℃~150℃  -25℃~250℃ 
◆输出信号 脉冲电压输出信号 高电平8~10V   低电平0.7~1.3V 
◆脉冲占空比约50%,传输距离为100m 
◆脉冲电流远传信号 4~20 mA,传输距离为1000m 
◆仪表使用环境 温度:-25℃~+55℃ 湿度:5~90%    RH50℃ 
◆材质 不锈钢,铝合金 
◆电源 DC24V或锂电池3.6V 
◆防爆等级 本安型iaIIbT3-T6 
   防护等级 IP65

 

 

产品名称:自动药物凝点仪 药物凝点测定仪
产品型号:YN4

自动药物凝点仪 药物凝点测定仪 型号:YN4

自动药物凝点仪按2010版《中国药典》附录VI D 凝点测定法设计制造,测定药物由液体凝结为固体时候,在短时间内停留不变的高温度。某些药品具有一定的凝点、纯度变更,凝点亦随之改变。测定凝点可以区别或检查药品的纯杂程度。 
    自动药物凝点仪采用混体信号ISP FLASH微控制器为核心,整过测定过程除样品加注外自动进行。真彩触摸屏,使操作更加方便、清晰、直观。 

自动药物凝点仪主要技术参数: 
控制方式:浴体温度、试样温度、试样搅拌、结果采集、结果打印全部采用微电脑全自动控制 
标准:2010版《中国药典》附录VI D 凝点测定法 
控温范围                 -20~ +95℃ 
控温方式             微电脑控制 
控温精度                      ±0.1℃ 
加热方式                      不锈钢电热管加热 
制冷方式                      进口压缩机制冷(外接循环冷浴) 
观察方式                      控制程序自动判断 
工作方式                      双孔 
试样搅拌方式                  自动机械搅拌  
制冷控制                      进口磁力泵 
加热功率                      400W  
制冷功率                      1200W 
结果处理                      微型打印机自动打印

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